工况要求

• 材料类型: 半导体封装胶(芯片粘接胶Die Attach、塑封料Molding Compound、底部填充胶Underfill、围堰胶Dam Fill、包封胶Encapsulant等)

• 初始状态: 半导体封装胶为高精度电子级材料,对气泡控制要求极其严格,胶体中含有纳米级微小气泡,即使极少量气泡残留也会导致芯片封装失效,影响产品良率和可靠性

• 处理目标: 将半导体封装胶中纳米级微小气泡彻底去除,确保封装胶质地均匀细腻、无气泡残留,满足芯片粘接、塑封、底部填充、围堰包封等高精度半导体封装工艺要求,确保芯片长期可靠性


改进前后对比

改进前——传统工艺痛点

半导体封装胶广泛应用于集成电路、芯片封装、存储器、传感器等半导体领域,其品质直接决定芯片性能与长期可靠性。然而半导体封装对气泡控制要求极其严格,传统处理方式面临多重挑战:

• 纳米级气泡难去除:半导体封装胶粘度高、精度要求高,传统真空脱泡箱无法有效去除纳米级微小气泡,气泡残留导致封装层出现空洞、裂纹

• 芯片粘接空洞:芯片粘接胶(Die Attach)中气泡残留导致芯片与基板间粘接不完全,形成热阻集中区,芯片工作时局部过热,严重影响性能和寿命

• 塑封料缺陷:塑封料(Molding Compound)中气泡导致封装体出现气泡、裂纹、分层,水汽侵入加速芯片腐蚀,产品良率大幅下降

• 底部填充不均匀:底部填充胶(Underfill)中气泡导致填充不均匀,芯片与基板间应力分布不均,热循环时易发生开裂失效

• 产品良率低:传统方式气泡去除不彻底,封装缺陷率高,产品良率低,成本大幅上升


解决方案

• 纳米级真空脱泡 + 行星运动:在真空环境下,通过自转公转行星运动产生强力剪切与对流,将半导体封装胶中纳米级微小气泡逐步上浮并抽出,达到纳米级脱泡效果,满足半导体行业对气泡控制的严苛要求

• 芯片粘接无空洞:彻底脱泡后的芯片粘接胶(Die Attach)固化后无空洞,芯片与基板间粘接完全,热阻均匀分布,芯片工作温度稳定

• 塑封料致密无缺陷:脱泡后的塑封料(Molding Compound)固化后致密无气泡、无裂纹、不分层,水汽无法侵入,芯片长期可靠性显著提升

• 底部填充均匀完全:底部填充胶(Underfill)中气泡彻底去除,填充均匀完全,芯片与基板间应力分布均匀,热循环可靠性优异


搅拌脱泡机优势

• 纳米级脱泡:真空环境配合行星运动,有效脱除半导体封装胶中纳米级微小气泡,满足半导体行业对气泡控制的严苛要求

• 胶体均匀细腻:自转公转行星运动柔和均匀,封装胶质地均匀细腻,无气泡残留,封装质量优异

• 参数精确可控:转速、时间、真空度可调,针对不同封装胶精准优化工艺参数,确保最佳脱泡效果

• 高效省时:数分钟内完成搅拌脱泡全流程,替代传统长时间静置脱泡,大幅提升生产效率

• 无接触无污染:无接触式设计,不接触物料本身,无二次污染,保证半导体封装胶的电子级纯净度

• 适配高精度封装:处理后的封装胶满足芯片粘接、塑封、底部填充、围堰包封等高精度半导体封装工艺要求


测试条件

项目

参数

机型

SIE-MIX90

测试材料

半导体封装胶(芯片粘接胶/塑封料/底部填充胶等)

测试转速

1800 rpm

测试时间

4 min

真空度

-95KPa


搅拌前后效果对比

对比维度

搅拌前

搅拌后

气泡含量

含纳米级微小气泡,封装后出现空洞

纳米级气泡彻底清除,封装致密无空洞

芯片粘接质量

粘接不完全,热阻集中,局部过热

粘接完全,热阻均匀,芯片温度稳定

塑封料质量

封装体有气泡、裂纹、分层风险

封装体致密无缺陷,无裂纹不分层

底部填充效果

填充不均匀,应力分布不均

填充均匀完全,应力分布均匀

产品良率

封装缺陷率高,良率低

封装质量优异,良率显著提升

SIENOX行星搅拌脱泡机:半导体封装材料高精度制备解决方案.jpg

成熟应用领域

✅ 集成电路封装

✅ 芯片粘接(Die Attach)

✅ 塑封(Molding)

✅ 底部填充(Underfill)

✅ 围堰包封(Dam & Fill)

✅ 存储器封装